LTE測試卡
LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡(又稱白卡),使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號測試(LTE(Long Term Evolution,長期演進)是由3GPP組織制定的UMTS技術標準的長期演進,于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動。
LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關鍵傳輸技術,顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率(峰值速率能夠達到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s),并支持多種帶寬分配:1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等,頻譜分配更加靈活,系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE測試卡無線網(wǎng)絡架構更加扁平化,減小了系統(tǒng)時延,降低了建網(wǎng)成本和維護成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。
LTE的測試首先需要模擬LTE射頻信號,并且研究其統(tǒng)計特性。對于LTE下行,研究人員可以從WiMAX和WLAN等技術中參考得到OFDMA的射頻特性。但是對于LTE上行,LTE上行使用的SC-FDMA技術在其他標準中并沒有使用。其次在LTE信號的射頻分析方面,由于LTE信號采用了新的接入方式OFDMA,信號帶寬最高可達20MHZ。
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